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美國GE水密式直探頭Z15M
| 產(chǎn)品型號： |
Z15M |
| 品 牌： |
美國GE |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-05-05 |
| | 品牌：美國GE | | 型號：Z15M | | 加工定制：否 | |
| | 用途：用于檢測小缺陷 | | 是否進口：是 | | 加工定制：否 | |
美國GE水密式直探頭Z15M
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設(shè)計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力
特性：高的增益儲備
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數(shù)據(jù)表
= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標(biāo)準。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
類型
[訂購號碼] |
D [mm] |
f [MHz] |
AB6/11)
[mm] |
N [mm] |
F [mm] |
近場分辨率
FBH [mm] |
聲束形狀
編號 |
備注 |
草圖 |
| 帶固定電纜的大殼體；特性帶寬：40% |
Z1N
Z2N
Z4N
Z5N |
20 |
1
2
4
5 |
28-156
50-267
100-534
127-668 |
64
127
254
318 |
|
5Ø in28
2Ø in19
2Ø in9.6
2Ø in8 |
1-20
2-20
4-20
5-20 |
可拆卸環(huán) |
類型33 |
| 帶固定電纜的中等尺寸殼體；特性帶寬：40% |
Z2K
Z4K
Z4KP20
Z4KL20
Z5K
Z10K |
10 |
2
4
4
4
5
10 |
14-77
28-154
15-32
15-32
34-190
68-380 |
32
64
80
160 |
20
20 |
2Øin9
2Øin6.5
2Øin6.0
2Øin6.0
2Øin5
2Øin4 |
2-10
4-10
-
-
5-10
10-10 |
可拆卸環(huán)
點聚焦
線聚焦 |
類型34 |
| 帶固定電纜的小尺寸殼體；特性帶寬：40% |
Z5M
Z10M
Z10ML15
Z10MP15
Z15M |
5 |
5
10
10
10
15 |
8-52
16-104
10-23
10-23
24-156 |
20
40
60 |
15
15 |
2Øin3
2Øin2
2Øin2
2Øin2
2Øin1.6 |
5-5
10-5
-
-
15-5 |
線聚焦
點聚焦 |
類型35 |
根據(jù)用戶需要提供其它頻率、單元尺寸或設(shè)計的探頭
1) 請見第5頁中的定義。
| 附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭Z..K進行接觸測試的延遲線
耦合帽 |
承索 |
承索
對于干耦合見36頁 |
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
