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美國GE貝克休斯高溫檢測探頭K4G

產(chǎn)品型號：

K4G

品牌：

美國GE

≧1 只
￥8800.00

所在地：

廣東深圳

更新日期：

2025-04-30

詳細(xì)信息

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	品牌：美國GE		型號：K4G		加工定制：否
	用途：探傷儀測厚儀探頭		是否進(jìn)口：是		產(chǎn)地：美國

美國GE貝克休斯高溫檢測探頭K4G

主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。

探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測

水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測
·耦合一致性好，檢測重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果

通過與德國聯(lián)邦材料檢測研究所（BAM）合作,*新研制的斜探頭和雙晶探頭可連續(xù)工作至250℃。當(dāng)接觸面溫度升高到250℃以上時(shí)，測量后的探頭必需降底溫度。斜探頭允許的*大接觸溫度大約是350℃，但是在如此高的溫度下延遲塊性能會(huì)受到一定的影響。此外，雙晶直探頭可以承受的*高接觸溫度大約為800℃。根據(jù)溫度的不同，選用的偶合劑也不同:Z G T 可以達(dá)到2 5 0℃，而Z G M可以達(dá)到550℃。在超過550℃的溫度下，可以用玻璃粉偶合。這些特殊設(shè)計(jì)的探頭同樣可以在-197℃的低溫下進(jìn)行測量。