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OLympus奧林巴斯超聲波測厚儀45MG
詳細信息| 詢價留言品牌：OLympus 加工定制：否 型號：45MG 類型：超聲波 測量范圍：0.08-635 mm 顯示方式：數顯 電源電壓：9 V 外形尺寸：91.1•x•162•x mm 顯示方式：數顯 
OLympus奧林巴斯 超聲波測厚儀45MG
對內部腐蝕的金屬材料進行厚度測量
使用雙晶探頭
45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結構的剩余厚度。
這些應用中常使用的是雙晶探頭。
• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
• 當校準過程中出現雙回波時，會發出雙回波警告
• 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
• 高溫測量：溫度可高達500•℃
B掃描成像（基于時間）
45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數轉換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發生的變化時，這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結*小值功能用于顯示掃查區域的*小厚度值。可選45MG數據記錄器*多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數。
高溫表面
45MG測厚儀配上D790系列探頭（D790、D790• -SM、•D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達•500•℃ ）的理想選擇，并可獲得穩定的厚度讀數。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的精確性。 -
留 言
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